Semiconductor devices - Mechanical and climatic test methods - Part 2: Low air pressure
NORM herausgegeben am 1.4.2003
Bezeichnung normen: ČSN EN 60749-2
Zeichen: 358799
Katalog-Nummer: 66854
Ausgabedatum normen: 1.4.2003
Zahl der Seiten: 4
Gewicht ca.: 12 g (0.03 Pfund)
Land: Tschechische technische Norm
Kategorie: Technische Normen ČSN
Tato část normy IEC 60749 popisuje zkoušení nízkého tlaku vzduchu na polovodičových součástkách. Zkouška je určena především ke stanovení způsobilosti částí a materiálů součástek vyhnout se poruchám průrazem napětí, způsobeným snížením dielektrické pevnosti vzduchu a jiných dielektrických materiálů při snížených tlacích. Tato zkouška je vhodná pouze pro součástky u nichž pracovní napětí přesahuje 1 000 V.
Tato zkouška je vhodná pro všechny polovodičové součástky, za předpokladu, že jejich pouzdra patří mezi typy s dutinou. Zkouška je určena pouze pro součástky používané pro vojenské a kosmické účely. Obecně je tato zkouška nízkým tlakem vzduchu v souladu s IEC 60068-2-13, ale vzhledem ke specifickým požadavkům polovodičů, platí články této normy.