Semiconductor devices - Mechanical and climatic test methods - Part 21: Solderability
NORM herausgegeben am 1.12.2011
Bezeichnung normen: ČSN EN 60749-21-ed.2
Zeichen: 358799
Katalog-Nummer: 89809
Ausgabedatum normen: 1.12.2011
Zahl der Seiten: 32
Gewicht ca.: 96 g (0.21 Pfund)
Land: Tschechische technische Norm
Kategorie: Technische Normen ČSN
Tato norma definuje standardní postup pro stanovení pájitelnosti vývodů pouzder součástek, které mají být připojeny na jiný povrch olovnatou (SnPb), nebo bezolovnatou (Pb-free) pájkou.
Tato zkušební metoda stanovuje postup pro stanovení pájitelnosti metodou "ponoř a prohlédni", která je použitelná pro axiální pouzdra pro vývodovou montáž, pro povrchově montované součástky (SMD), stejně jako volitelný postup pro zjišťování pájitelnosti desky pro SMD za účelem umožnění simulace pájecího procesu, který je použit při montáži součástky. Tato zkušební metoda také stanovuje volitelné podmínky v případě stárnutí.
Tato zkouška je považována za destruktivní, pokud v příslušné specifikaci není uvedeno jinak.
Poznámka 1: Tato zkušební metoda je všeobecně stanovená podle IEC 60068, ale v důsledku specifických požadavků na polovodiče je definován následující postup uvedený v textu.
Poznámka 2: Tato zkušební metoda nevyhodnocuje efekt teplotních namáhání, která se mohou objevit během pájecího procesu, viz IEC 60749-15 nebo IEC 60749-20