ČSN EN 60749-3-ed.2 (358799)

Semiconductor devices - Mechanical and climatic test methods - Part 3: External visual examination

NORM herausgegeben am 1.10.2017

Englisch (nur die Titelseite ist in der tschechischen Sprache) -
Gedruckt (8.90 EUR)

Informationen über die Norm:

Bezeichnung normen: ČSN EN 60749-3-ed.2
Zeichen: 358799
Katalog-Nummer: 503484
Ausgabedatum normen: 1.10.2017
Zahl der Seiten: 20
Gewicht ca.: 60 g (0.13 Pfund)
Land: Tschechische technische Norm
Kategorie: Technische Normen ČSN

Die Annotation des Normtextes ČSN EN 60749-3-ed.2 (358799):

Účelem této normy je ověřit, zda jsou materiály, návrh, konstrukce, značení a provedení polovodičové součástky v souladu s příslušným dokumentem pro zadávání zakázek. Vnější vizuální prohlídka je nedestruktivní zkouška, která je aplikovatelná na všechny typy pouzder. Zkouška je užitečná pro kvalifikaci, sledování procesu nebo schválení výrobní dávky