ČSN EN 62373 (358767)

Bias-temperature stability test for metal-oxide, semiconductor, field-effect transistors (MOSFET)

NORM herausgegeben am 1.3.2007

Englisch (nur die Titelseite ist in der tschechischen Sprache) -
Gedruckt (14.40 EUR)

Informationen über die Norm:

Bezeichnung normen: ČSN EN 62373
Zeichen: 358767
Katalog-Nummer: 78056
Ausgabedatum normen: 1.3.2007
Zahl der Seiten: 32
Gewicht ca.: 96 g (0.21 Pfund)
Land: Tschechische technische Norm
Kategorie: Technische Normen ČSN

Die Annotation des Normtextes ČSN EN 62373 (358767):

Tato norma uvádí zkušební postupy pro zkoušení stability tranzistorů řízených polem (MOSFET) při kombinovaném namáhání napětím a teplotou.
Při dlouhodobém namáhání zvýšenou teplotou a napětím G-S dochází k degradaci MOSFET, klesá saturační proud a vzrůstá absolutní hodnota prahového napětí.
Zaváděná IEC 62373 představuje celkem 27 stran anglického a francouzského textu.