ČSN EN 62374 (358768)

Semiconductor devices - Time Dependent Dielectric Breakdown (TDDB) test for gate dielectric films

NORM herausgegeben am 1.5.2008

Englisch (nur die Titelseite ist in der tschechischen Sprache) -
Gedruckt (17.40 EUR)

Informationen über die Norm:

Bezeichnung normen: ČSN EN 62374
Zeichen: 358768
Katalog-Nummer: 80891
Ausgabedatum normen: 1.5.2008
Zahl der Seiten: 48
Gewicht ca.: 144 g (0.32 Pfund)
Land: Tschechische technische Norm
Kategorie: Technische Normen ČSN

Die Annotation des Normtextes ČSN EN 62374 (358768):

Norma stanovuje metodu pro zkoušení časově závislého průrazu dielektrika hradel (TDDB) a odhad tržní životnosti hradel podle výsledků této zkoušky.