ČSN EN 62417 (358769)

Semiconductor devices - Mobile ion tests for metal-oxide semiconductor field effect transistors (MOSFETs) (IEC 62417:2010)

NORM herausgegeben am 1.12.2010

Englisch -
Gedruckt (8.90 EUR)

Informationen über die Norm:

Bezeichnung normen: ČSN EN 62417
Zeichen: 358769
Katalog-Nummer: 87218
Ausgabedatum normen: 1.12.2010
Zahl der Seiten: 16
Gewicht ca.: 48 g (0.11 Pfund)
Land: Tschechische technische Norm
Kategorie: Technische Normen ČSN