Semiconductor devices - Mechanical and climatic test methods - Part 10: Mechanical shock

The information about the standard:

Designation standards: ČSN EN 60749-10
Classification mark: 358799
Catalog number: 66849
Publication date standards: 1.4.2003
The number of pages: 4
Approximate weight : 12 g (0.03 lbs)
Country: Czech technical standard
Kategorie: Technische Normen ČSN

Annotation of standard text ČSN EN 60749-10 (358799):

Tato část normy IEC 60749 popisuje zkoušku úderem, určenou ke zjištění vhodnosti součástek pro použití v elektronických zařízeních, které mohou být vystaveny mírně přerušovaným úderům, jako výsledek náhle působících sil nebo prudkých změn pohybu způsobených hrubým zacházením, dopravou, nebo oblastí působení. Údery tohoto typu mohou narušit provozní charakteristiky, obzvláště, jestliže se impulsy úderů opakují. Toto je destruktivní zkouška. Obvykle je vhodná pro pouzdra s dutinou. Obecně je zkouška mechanickými údery shodná s IEC 60068-2-27, ale vzhledem ke specifickým požadavkům polovodičů, platí články této normy.