ČSN EN 60749-20-ed.2 (358799)

Semiconductor devices - Mechanical and climatic test methods - Part 20: Resistance of plastic encapsulated SMDs to the combined effect of moisture and soldering heat

NORM herausgegeben am 1.5.2010

Informationen über die Norm:

Bezeichnung normen: ČSN EN 60749-20-ed.2
Zeichen: 358799
Katalog-Nummer: 86027
Anmerkung: UNGÜLTIG
Ausgabedatum normen: 1.5.2010
Zahl der Seiten: 40
Gewicht ca.: 120 g (0.26 Pfund)
Land: Tschechische technische Norm
Kategorie: Technische Normen ČSN