ČSN EN 60749-20 (358799)

Semiconductor devices - Mechanical and climatic test methods - Part 20: Resistance of plastic-encapsulated SMDs to the combined effect of moisture and soldering heat

NORM herausgegeben am 1.12.2003

Informationen über die Norm:

Bezeichnung normen: ČSN EN 60749-20
Zeichen: 358799
Katalog-Nummer: 68969
Anmerkung: UNGÜLTIG
Ausgabedatum normen: 1.12.2003
Zahl der Seiten: 60
Gewicht ca.: 180 g (0.40 Pfund)
Land: Tschechische technische Norm
Kategorie: Technische Normen ČSN