ČSN EN 60749-3-ed.2 (358799)

Semiconductor devices - Mechanical and climatic test methods - Part 3: External visual examination

NORM herausgegeben am 1.10.2017

Englisch (nur die Titelseite ist in der tschechischen Sprache) -
Gedruckt (9.00 EUR)

The information about the standard:

Designation standards: ČSN EN 60749-3-ed.2
Classification mark: 358799
Catalog number: 503484
Publication date standards: 1.10.2017
The number of pages: 20
Approximate weight : 60 g (0.13 lbs)
Country: Czech technical standard
Kategorie: Technische Normen ČSN

Annotation of standard text ČSN EN 60749-3-ed.2 (358799):

Účelem této normy je ověřit, zda jsou materiály, návrh, konstrukce, značení a provedení polovodičové součástky v souladu s příslušným dokumentem pro zadávání zakázek. Vnější vizuální prohlídka je nedestruktivní zkouška, která je aplikovatelná na všechny typy pouzder. Zkouška je užitečná pro kvalifikaci, sledování procesu nebo schválení výrobní dávky