Semiconductor devices - Mechanical and climatic test methods - Part 35: Acoustic microscopy for plastic encapsulated electronic components
NORM herausgegeben am 1.5.2007
Designation standards: ČSN EN 60749-35
Classification mark: 358799
Catalog number: 78450
Publication date standards: 1.5.2007
The number of pages: 48
Approximate weight : 144 g (0.32 lbs)
Country: Czech technical standard
Kategorie: Technische Normen ČSN
Tato část souboru norem IEC 60749 popisuje postupy pro provádění akustické mikroskopie na elektronických součástkách zapouzdřených do plastu. Poskytuje návod na používání akustické mikroskopie pro detekci anomálií (delaminace, praskliny, dutiny v zalévací hmotě atp.). Metoda je reprodukovatelná, nedestruktivní. Přejímaná EN 60749-35 představuje 2 strany anglického textu a 43 stran anglického a francouzského textu normy IEC