NORMSERVIS s.r.o.

ČSN EN 60749-36 (358799)

Semiconductor devices - Mechanical and climatic test methods - Part 36: Acceleration, steady state

NORM herausgegeben am 1.12.2003

Englisch (nur die Titelseite ist in der tschechischen Sprache) -
Gedruckt (9.00 EUR)

Informationen über die Norm:

Bezeichnung normen: ČSN EN 60749-36
Zeichen: 358799
Katalog-Nummer: 69113
Ausgabedatum normen: 1.12.2003
Zahl der Seiten: 16
Gewicht ca.: 48 g (0.11 Pfund)
Land: Tschechische technische Norm
Kategorie: Technische Normen ČSN

Die Annotation des Normtextes ČSN EN 60749-36 (358799):

Tato část IEC 60749 používá zkoušku k určení vlivů stálého zrychlení na typy polovodičových součástek s dutinou. Je to zrychlená zkouška, navržená ke zjištění typů strukturálních a mechanických slabin, které jsou ne vždy zjistitelné zkouškou údery a vibracemi. Tato zkouška se může použít jako zkouška s vysokým namáháním (destruktivní), k určení mechanických mezí pouzdra, vnitřního pokovení a systému přívodů, připevnění čipu nebo podložky a dalších prvků mikroelektronické součástky. Když byly stanoveny meze vlastního namáhání, může se tato zkušební metoda využít jako nedestruktivní přímé stoprocentní třídění ke zjištění a vyřazení součástek, s nižší mechanickou pevností než je obvyklá, v kterémkoliv strukturálním prvku. Obecně je zkušební metoda stálým zrychlením v souladu s IEC 60068-2-7, ale vzhledem ke specifickým požadavkům polovodičů, platí články této normy.