Semiconductor devices - Mechanical and climatic test methods - Part 43: Guidelines for IC reliability qualification plans
NORM herausgegeben am 1.1.2018
Designation standards: ČSN EN 60749-43
Classification mark: 358799
Catalog number: 504152
Publication date standards: 1.1.2018
The number of pages: 48
Approximate weight : 144 g (0.32 lbs)
Country: Czech technical standard
Kategorie: Technische Normen ČSN
Tato norma poskytuje pokyny pro kvalifikační plány spolehlivosti výrobků polovodičových integrovaných obvodů (IC). Tento dokument není určen pro vojenské a kosmické aplikace. POZNÁMKA 1: Výrobce může používat flexibilní rozsahy výběru vzorku, aby snížil náklady a udržel přiměřenou spolehlivost. Toto přizpůsobení založené na EDR-4708, AEC Q100, JESD47 nebo jiném relevantním dokumentu může být také použitelné, pokud je specifikováno POZNÁMKA 2: Weibullova distribuční metoda použitá v tomto dokumentu je jednou z několika metod pro výpočet vhodného rozsahu výběru vzorku a zkušebních podmínek pro daný projekt spolehlivosti