ČSN EN 62374-1 (358768)

Semiconductor devices - Part 1: Time-dependent dielectric breakdown (TDDB) test for inter-metal layers

NORM herausgegeben am 1.7.2011

Englisch (nur die Titelseite ist in der tschechischen Sprache) -
Gedruckt (13.70 EUR)

Informationen über die Norm:

Bezeichnung normen: ČSN EN 62374-1
Zeichen: 358768
Katalog-Nummer: 88688
Ausgabedatum normen: 1.7.2011
Zahl der Seiten: 28
Gewicht ca.: 84 g (0.19 Pfund)
Land: Tschechische technische Norm
Kategorie: Technische Normen ČSN

Die Annotation des Normtextes ČSN EN 62374-1 (358768):

Tato norma popisuje zkušební metodu, zkušební strukturu a metodu pro odhad životnosti pro zkoušku časově závislého dielektrického průrazu (TDDB) pro intermetalické vrstvy vytvořené pro polovodičové součástky