ČSN EN 62374 (358768)

Semiconductor devices - Time Dependent Dielectric Breakdown (TDDB) test for gate dielectric films

NORM herausgegeben am 1.5.2008

Englisch (nur die Titelseite ist in der tschechischen Sprache) -
Gedruckt (17.50 EUR)

The information about the standard:

Designation standards: ČSN EN 62374
Classification mark: 358768
Catalog number: 80891
Publication date standards: 1.5.2008
The number of pages: 48
Approximate weight : 144 g (0.32 lbs)
Country: Czech technical standard
Kategorie: Technische Normen ČSN

Annotation of standard text ČSN EN 62374 (358768):

Norma stanovuje metodu pro zkoušení časově závislého průrazu dielektrika hradel (TDDB) a odhad tržní životnosti hradel podle výsledků této zkoušky.