ČSN EN 62415 (358771)

Semiconductor devices - Constant current electromigration test (IEC 62415:2010)

NORM herausgegeben am 1.12.2010

Informationen über die Norm:

Bezeichnung normen: ČSN EN 62415
Zeichen: 358771
Katalog-Nummer: 87220
Ausgabedatum normen: 1.12.2010
Zahl der Seiten: 20
Gewicht ca.: 60 g (0.13 Pfund)
Land: Tschechische technische Norm
Kategorie: Technische Normen ČSN