NORMSERVIS s.r.o.

ČSN EN 62418 (358772)

Semiconductor devices - Metallization stress void test (IEC 62418:2010)

NORM herausgegeben am 1.1.2011

Englisch -
Gedruckt (17.60 EUR)

Informationen über die Norm:

Bezeichnung normen: ČSN EN 62418
Zeichen: 358772
Katalog-Nummer: 87502
Ausgabedatum normen: 1.1.2011
Zahl der Seiten: 44
Gewicht ca.: 132 g (0.29 Pfund)
Land: Tschechische technische Norm
Kategorie: Technische Normen ČSN