Semiconductor devices - Mechanical and climatic test methods - Part 34-1: Power cycling test for power semiconductor module

The information about the standard:

Designation standards: ČSN EN IEC 60749-34-1
Classification mark: 358799
Catalog number: 523064
Publication date standards: 1.2.2026
The number of pages: 40
Approximate weight : 120 g (0.26 lbs)
Country: Czech technical standard
Kategorie: Technische Normen ČSN

Annotation of standard text ČSN EN IEC 60749-34-1 (358799):

Tato norma popisuje zkušební metodu, která se používá k určení schopnosti výkonových polovodičových modulů odolávat tepelnému a mechanickému namáhání způsobenému cyklickým namáháním výkonovou ztrátou vnitřních polovodičů a vnitřních konektorů. Je založena na IEC 60749 34, ale byla vytvořena speciálně pro výkonové polovodičové moduly, včetně tranzistorů IGBT, MOSFET, diod a tyristorů.
Požaduje-li zákazník individuální použití nebo specifické směrnice pro danou aplikaci (například směrnice ECPE AQG 324), mohou být podrobnosti zkušební metody založeny na těchto požadavcích, liší-li se od obsahu tohoto dokumentu.
Tato zkouška způsobuje únavu materiálu a je považována za destruktivní