ČSN EN IEC 62276-ed.4 (358417)

Single crystal wafers for surface acoustic wave (SAW) device applications - Specifications and measuring methods

NORM herausgegeben am 1.10.2025

Informationen über die Norm:

Bezeichnung normen: ČSN EN IEC 62276-ed.4
Zeichen: 358417
Katalog-Nummer: 521961
Ausgabedatum normen: 1.10.2025
Zahl der Seiten: 52
Gewicht ca.: 156 g (0.34 Pfund)
Land: Tschechische technische Norm
Kategorie: Technische Normen ČSN

Die Annotation des Normtextes ČSN EN IEC 62276-ed.4 (358417):

This document applies to the manufacture of synthetic quartz, lithium niobate (LN), lithium tantalate (LT), lithium tetraborate (LBO), and lanthanum gallium silicate (LGS) single crystal wafers intended for use as substrates in the manufacture of surface acoustic wave (SAW) filters and resonators