Semiconductor devices - Mechanical and climatic test methods - Part 10: Mechanical shock - Device and subassembly
NORM herausgegeben am 1.1.2023
Designation standards: ČSN EN IEC 60749-10-ed.2
Classification mark: 358799
Catalog number: 515546
Publication date standards: 1.1.2023
The number of pages: 24
Approximate weight : 72 g (0.16 lbs)
Country: Czech technical standard
Kategorie: Technische Normen ČSN
Tato norma je určena k hodnocení součástek ve volném stavu a namontovaných na deskách s plošnými spoji pro použití v elektrických zařízeních. Metoda slouží k určení kompatibility součástek a podsestav, aby odolaly středně silným rázům. Použití podsestav je prostředkem ke zkoušení součástek v podmínkách použití tak, jak jsou osazeny na deskách s plošnými spoji. Mechanické rázy způsobené náhle působícími silami nebo náhlými změnami pohybu, které jsou způsobené manipulací, přepravou nebo provozem v terénu mohou narušit provozní vlastnosti, zejména, pokud se rázové pulsy opakují. Jedná se o destruktivní zkoušku určenou pro kvalifikaci součástek