ČSN EN IEC 60749-20-ed.3 (358799)

Semiconductor devices - Mechanical and climatic test methods - Part 20: Resistance of plastic encapsulated SMDs to the combined effect of moisture and soldering heat

NORM herausgegeben am 1.4.2021

Englisch (nur die Titelseite ist in der tschechischen Sprache) -
Gedruckt (17.60 EUR)

Informationen über die Norm:

Bezeichnung normen: ČSN EN IEC 60749-20-ed.3
Zeichen: 358799
Katalog-Nummer: 512277
Ausgabedatum normen: 1.4.2021
Zahl der Seiten: 40
Gewicht ca.: 120 g (0.26 Pfund)
Land: Tschechische technische Norm
Kategorie: Technische Normen ČSN

Die Annotation des Normtextes ČSN EN IEC 60749-20-ed.3 (358799):

Tato norma poskytuje prostředky pro hodnocení odolnosti proti teplu při pájení uzavřených polovodičů, jako jsou v plastu zapouzdřené součástky pro povrchovou montáž (SMD). Tato zkouška je destruktivní