ČSN EN IEC 60749-41 (358799)

Semiconductor devices - Mechanical and climatic test methods - Part 41: Standard reliability testing methods of non-volatile memory devices

NORM herausgegeben am 1.4.2021

Englisch (nur die Titelseite ist in der tschechischen Sprache) -
Gedruckt (14.20 EUR)

Informationen über die Norm:

Bezeichnung normen: ČSN EN IEC 60749-41
Zeichen: 358799
Katalog-Nummer: 512197
Ausgabedatum normen: 1.4.2021
Zahl der Seiten: 36
Gewicht ca.: 108 g (0.24 Pfund)
Land: Tschechische technische Norm
Kategorie: Technische Normen ČSN

Die Annotation des Normtextes ČSN EN IEC 60749-41 (358799):

Tato norma stanovuje procedurální požadavky na provádění platných zkoušek výdrže, uchování a zkoušek na opačné teplotě založené na kvalifikační specifikaci. Kvalifikační specifikace výdrže a uchování (pro počet cyklů, trvání, teploty a velikosti vzorku) jsou specifikovány v JESD47, nebo jsou vyvíjeny pomocí metod vycházejících ze znalostí JESD94