Semiconductor devices - Generic semiconductor qualification guidelines - Part 1: Guidelines for IC reliability qualification
NORM herausgegeben am 1.4.2022
Bezeichnung normen: ČSN EN IEC 63287-1
Zeichen: 358777
Katalog-Nummer: 514694
Ausgabedatum normen: 1.4.2022
Zahl der Seiten: 56
Gewicht ca.: 168 g (0.37 Pfund)
Land: Tschechische technische Norm
Kategorie: Technische Normen ČSN
Tato norma poskytuje směrnice pro kvalifikační plány spolehlivosti výrobků polovodičových integrovaných obvodů. Tento dokument není určen pro vojenské a kosmické aplikace. POZNÁMKA 1 - Výrobce může používat flexibilní rozsahy výběru vzorku, aby snížil náklady a udržel přiměřenou spolehlivost a to za pomoci adaptace této směrnice, která je založena na EDR-4708, AEC Q100, JESD47 nebo jiném relevantním dokumentu, pokud je specifikován. POZNÁMKA 2 - Weibullova distribuční metoda použitá v tomto dokumentu je jednou z několika metod pro výpočet vhodného rozsahu výběru vzorku a zkušebních podmínek pro daný projekt spolehlivosti