
Testing of materials for semiconductor technology; determination of etch rates of etching mixtures; silicium monocrystals; gravimetric method.
NORM herausgegeben am 1.10.1990
Designation standards: DIN 50453-1:1990-10
Note: UNGÜLTIG
Publication date standards: 1.10.1990
The number of pages: 3
Approximate weight : 9 g (0.02 lbs)
Country: German technical standard
Kategorie: Technische Normen DIN
Prüfung von Materialien für die Halbleitertechnologie; Bestimmung der Ätzraten von Ätzmischungen; Silicium-Einkristalle; Gravimetrisches Verfahren.