Semiconductor devices - Mechanical and climatic test methods.
NORM herausgegeben am 1.2.2000
Bezeichnung normen: DIN EN 60749:2000-02
Anmerkung: UNGÜLTIG
Ausgabedatum normen: 1.2.2000
Zahl der Seiten: 30
Gewicht ca.: 90 g (0.20 Pfund)
Land: Deutsche technische Norm
Kategorie: Technische Normen DIN
Halbleiterbauelemente - Mechanische und klimatische Prüfverfahren.