DIN EN 60749:2000-02

Semiconductor devices - Mechanical and climatic test methods.

NORM herausgegeben am 1.2.2000

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The information about the standard:

Designation standards: DIN EN 60749:2000-02
Note: UNGÜLTIG
Publication date standards: 1.2.2000
The number of pages: 30
Approximate weight : 90 g (0.20 lbs)
Country: German technical standard
Kategorie: Technische Normen DIN

Annotation of standard text DIN EN 60749:2000-02 :

Halbleiterbauelemente - Mechanische und klimatische Prüfverfahren.