DIN EN 60749-1:2003-12

Semiconductor devices - Mechanical and climatic test methods - Part 1: General.

NORM herausgegeben am 1.12.2003

Informationen über die Norm:

Bezeichnung normen: DIN EN 60749-1:2003-12
Ausgabedatum normen: 1.12.2003
Zahl der Seiten: 10
Gewicht ca.: 30 g (0.07 Pfund)
Land: Deutsche technische Norm
Kategorie: Technische Normen DIN