
Semiconductor devices - Mechanical and climatic test methods - Part 10: Mechanical shock.
NORM herausgegeben am 1.4.2003
    
        Bezeichnung normen: DIN EN 60749-10:2003-04
                
                
                
                Anmerkung:    UNGÜLTIG
               
                Ausgabedatum normen:  1.4.2003
        Zahl der Seiten: 7
Gewicht ca.: 21 g (0.05 Pfund)
        Land:          Deutsche technische Norm
        Kategorie: Technische Normen DIN
        
                
              
Halbleiterbauelemente - Mechanische und klimatische Prüfverfahren - Teil 10: Mechanisches Schocken.