Semiconductor devices - Mechanical and climatic test methods - Part 2: Low air pressure.
NORM herausgegeben am 1.4.2003
Bezeichnung normen: DIN EN 60749-2:2003-04
Ausgabedatum normen: 1.4.2003
Zahl der Seiten: 8
Gewicht ca.: 24 g (0.05 Pfund)
Land: Deutsche technische Norm
Kategorie: Technische Normen DIN
Halbleiterbauelemente - Mechanische und klimatische Prüfverfahren - Teil 2: Niedriger Luftdruck.