
Semiconductor devices - Mechanical and climatic test methods - Part 22: Bond strength.
NORM herausgegeben am 1.12.2003
    
        Designation standards: DIN EN 60749-22:2003-12
                
                
                
               
                Publication date standards:  1.12.2003
        The number of pages: 20
Approximate weight : 60 g (0.13 lbs)
        Country:          German technical standard
        Kategorie: Technische Normen DIN
        
                
              
Halbleiterbauelemente - Mechanische und klimatische Prüfverfahren - Teil 22: Kontaktfestigkeit (Bond-Strength).