DIN EN 60749-25:2004-04

Semiconductor devices - Mechanical and climatic test methods - Part 25: Temperature cycling.

NORM herausgegeben am 1.4.2004

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The information about the standard:

Designation standards: DIN EN 60749-25:2004-04
Publication date standards: 1.4.2004
The number of pages: 15
Approximate weight : 45 g (0.10 lbs)
Country: German technical standard
Kategorie: Technische Normen DIN

Annotation of standard text DIN EN 60749-25:2004-04 :

Halbleiterbauelemente - Mechanische und klimatische Prüfverfahren - Teil 25: Zyklische Temperaturwechsel.