DIN EN 60749-25:2004-04

Semiconductor devices - Mechanical and climatic test methods - Part 25: Temperature cycling.

NORM herausgegeben am 1.4.2004

Deutsch -
PDF - sofortiges Download (75.00 EUR)

Informationen über die Norm:

Bezeichnung normen: DIN EN 60749-25:2004-04
Ausgabedatum normen: 1.4.2004
Zahl der Seiten: 15
Gewicht ca.: 45 g (0.10 Pfund)
Land: Deutsche technische Norm
Kategorie: Technische Normen DIN

Die Annotation des Normtextes DIN EN 60749-25:2004-04 :

Halbleiterbauelemente - Mechanische und klimatische Prüfverfahren - Teil 25: Zyklische Temperaturwechsel.