DIN EN 60749-28:2018-02

VDE 0884-749-28. Semiconductor devices - Mechanical and climatic test methods - Part 28: Electrostatic discharge (ESD) sensitivity testing - Charged device model (CDM) - device level.

NORM herausgegeben am 1.2.2018

Deutsch -
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Informationen über die Norm:

Bezeichnung normen: DIN EN 60749-28:2018-02
Anmerkung: UNGÜLTIG
Ausgabedatum normen: 1.2.2018
Zahl der Seiten: 50
Gewicht ca.: 150 g (0.33 Pfund)
Land: Deutsche technische Norm
Kategorie: Technische Normen DIN

Die Annotation des Normtextes DIN EN 60749-28:2018-02 :

VDE 0884-749-28. Halbleiterbauelemente - Mechanische und klimatische Prüfverfahren - Teil 28: Prüfung der Empfindlichkeit gegen elektrostatische Entladungen (ESD) - Charged Device Model (CDM) - Device Level.