DIN EN 60749-29:2012-01

Semiconductor devices - Mechanical and climatic test methods - Part 29: Latch-up test.

NORM herausgegeben am 1.1.2012

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Informationen über die Norm:

Bezeichnung normen: DIN EN 60749-29:2012-01
Ausgabedatum normen: 1.1.2012
Zahl der Seiten: 27
Gewicht ca.: 81 g (0.18 Pfund)
Land: Deutsche technische Norm
Kategorie: Technische Normen DIN

Die Annotation des Normtextes DIN EN 60749-29:2012-01 :

Halbleiterbauelemente - Mechanische und klimatische Prüfverfahren - Teil 29: Latch-up-Prüfung.