Semiconductor devices - Mechanical and climatic test methods - Part 29: Latch-up test.
NORM herausgegeben am 1.7.2004
Bezeichnung normen: DIN EN 60749-29:2004-07
Anmerkung: UNGÜLTIG
Ausgabedatum normen: 1.7.2004
Zahl der Seiten: 22
Gewicht ca.: 66 g (0.15 Pfund)
Land: Deutsche technische Norm
Kategorie: Technische Normen DIN
Halbleiterbauelemente - Mechanische und klimatische Prüfverfahren - Teil 29: Latch-up-Prüfung.