DIN EN 60749-3:2003-04

Semiconductor devices - Mechanical and climatic test methods - Part 3: External visual inspection.

NORM herausgegeben am 1.4.2003

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Informationen über die Norm:

Bezeichnung normen: DIN EN 60749-3:2003-04
Anmerkung: UNGÜLTIG
Ausgabedatum normen: 1.4.2003
Zahl der Seiten: 5
Gewicht ca.: 15 g (0.03 Pfund)
Land: Deutsche technische Norm
Kategorie: Technische Normen DIN

Die Annotation des Normtextes DIN EN 60749-3:2003-04 :

Halbleiterbauelemente - Mechanische und klimatische Prüfverfahren - Teil 3: Äußere Sichtprüfung.