Semiconductor devices - Mechanical and climatic test methods - Part 30: Preconditioning of non-hermetic surface mount devices prior to reliability testing.
NORM herausgegeben am 1.12.2011
Designation standards: DIN EN 60749-30:2011-12
Note: UNGÜLTIG
Publication date standards: 1.12.2011
The number of pages: 14
Approximate weight : 42 g (0.09 lbs)
Country: German technical standard
Kategorie: Technische Normen DIN
Halbleiterbauelemente - Mechanische und klimatische Prüfverfahren - Teil 30: Behandlung nicht hermetisch verkappter oberflächenmontierbarer Bauelemente vor Zuverlässigkeitsprüfungen.