Semiconductor devices - Mechanical and climatic test methods - Part 30: Preconditioning of non-hermetic surface mount devices prior to reliability testing.
NORM herausgegeben am 1.6.2005
Designation standards: DIN EN 60749-30:2005-06
Note: UNGÜLTIG
Publication date standards: 1.6.2005
The number of pages: 15
Approximate weight : 45 g (0.10 lbs)
Country: German technical standard
Kategorie: Technische Normen DIN
Halbleiterbauelemente - Mechanische und klimatische Prüfverfahren - Teil 30: Behandlung nicht hermetisch verkappter oberflächenmontierbarer Bauelemente vor Zuverlässigkeitsprüfungen.