DIN EN 60749-37:2008-08

Semiconductor devices - Mechanical and climatic test methods - Part 37: Board level drop test method using an accelerometer.

NORM herausgegeben am 1.8.2008

Deutsch -
PDF - sofortiges Download (102.30 EUR)

Deutsch -

Gedruckt (127.30 EUR)

Informationen über die Norm:

Bezeichnung normen: DIN EN 60749-37:2008-08
Anmerkung: UNGÜLTIG
Ausgabedatum normen: 1.8.2008
Zahl der Seiten: 22
Gewicht ca.: 66 g (0.15 Pfund)
Land: Deutsche technische Norm
Kategorie: Technische Normen DIN

Die Annotation des Normtextes DIN EN 60749-37:2008-08 :

Halbleiterbauelemente - Mechanische und klimatische Prüfverfahren - Teil 37: Prüfverfahren Fall der Leiterplatte unter Verwendung eines Beschleunigungs-Messgerätes.