DIN EN 60749-38:2008-10

Semiconductor devices - Mechanical and climatic test methods - Part 38: Soft error test method for semiconductor devices with memory.

NORM herausgegeben am 1.10.2008

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Informationen über die Norm:

Bezeichnung normen: DIN EN 60749-38:2008-10
Ausgabedatum normen: 1.10.2008
Zahl der Seiten: 14
Gewicht ca.: 42 g (0.09 Pfund)
Land: Deutsche technische Norm
Kategorie: Technische Normen DIN

Die Annotation des Normtextes DIN EN 60749-38:2008-10 :

Halbleiterbauelemente - Mechanische und klimatische Prüfverfahren - Teil 38: Soft-Error-Prüfverfahren für Halbleiterbauelemente mit Speicher.