Semiconductor devices - Mechanical and climatic test methods - Part 4: Damp heat, steady state, highly accelerated stress test (HAST).
NORM herausgegeben am 1.11.2017
Bezeichnung normen: DIN EN 60749-4:2017-11
Ausgabedatum normen: 1.11.2017
Zahl der Seiten: 12
Gewicht ca.: 36 g (0.08 Pfund)
Land: Deutsche technische Norm
Kategorie: Technische Normen DIN
Halbleiterbauelemente - Mechanische und klimatische Prüfverfahren - Teil 4: Feuchte Wärme, konstant, Prüfung mit hochbeschleunigter Wirkung (HAST).