DIN EN 60749-40:2012-02

Semiconductor devices - Mechanical and climatic test methods - Part 40: Board level drop test method using a strain gauge.

NORM herausgegeben am 1.2.2012

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Informationen über die Norm:

Bezeichnung normen: DIN EN 60749-40:2012-02
Ausgabedatum normen: 1.2.2012
Zahl der Seiten: 23
Gewicht ca.: 69 g (0.15 Pfund)
Land: Deutsche technische Norm
Kategorie: Technische Normen DIN

Die Annotation des Normtextes DIN EN 60749-40:2012-02 :

Halbleiterbauelemente - Mechanische und klimatische Prüfverfahren - Teil 40: Prüfverfahren zum Fall einer Leiterplatte unter Verwendung von Dehnungsmessstreifen.