
Semiconductor devices - Mechanical and climatic test methods - Part 43: Guidelines for IC reliability qualification plans.
NORM herausgegeben am 1.5.2018
Bezeichnung normen: DIN EN 60749-43:2018-05
Anmerkung: UNGÜLTIG
Ausgabedatum normen: 1.5.2018
Zahl der Seiten: 40
Gewicht ca.: 120 g (0.26 Pfund)
Land: Deutsche technische Norm
Kategorie: Technische Normen DIN
Halbleiterbauelemente - Mechanische und klimatische Prüfverfahren - Teil 43: Leitfaden Pläne zur Zuverlässigkeitsqualifikation von integrierten Schaltungen.