DIN EN 60749-44:2017-04

Semiconductor devices - Mechanical and climatic test methods - Part 44: Neutron beam irradiated single event effect (SEE) test method for semiconductor devices.

NORM herausgegeben am 1.4.2017

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The information about the standard:

Designation standards: DIN EN 60749-44:2017-04
Publication date standards: 1.4.2017
The number of pages: 22
Approximate weight : 66 g (0.15 lbs)
Country: German technical standard
Kategorie: Technische Normen DIN

Annotation of standard text DIN EN 60749-44:2017-04 :

Halbleiterbauelemente - Mechanische und klimatische Prüfverfahren - Teil 44: Prüfverfahren zur Einzelereignis-Effekt-Neutronenbestrahlung von Halbleiterbauelementen.