Semiconductor devices - Mechanical and climatic test methods - Part 5: Steady-state temperature humidity bias life test.
NORM herausgegeben am 1.9.2003
Bezeichnung normen: DIN EN 60749-5:2003-09
Anmerkung: UNGÜLTIG
Ausgabedatum normen: 1.9.2003
Zahl der Seiten: 10
Gewicht ca.: 30 g (0.07 Pfund)
Land: Deutsche technische Norm
Kategorie: Technische Normen DIN
Halbleiterbauelemente - Mechanische und klimatische Prüfverfahren - Teil 5: Lebensdauerprüfung bei konstanter Temperatur und Feuchte unter elektrischer Beanspruchung.