DIN EN 62373:2007-01

Bias-temperature stability test for metal-oxide, semiconductor, field-effect transistors (MOSFET).

NORM herausgegeben am 1.1.2007

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Informationen über die Norm:

Bezeichnung normen: DIN EN 62373:2007-01
Ausgabedatum normen: 1.1.2007
Zahl der Seiten: 14
Gewicht ca.: 42 g (0.09 Pfund)
Land: Deutsche technische Norm
Kategorie: Technische Normen DIN

Die Annotation des Normtextes DIN EN 62373:2007-01 :

Stabilitätsprüfung unter Temperatur-Spannungs-Beanspruchung für Feldeffekttransistoren mit Metalloxid-Halbleiter (MOSFET).