DIN EN 62374:2008-02

Semiconductor devices - Time Dependent Dielectric Breakdown (TDDB) test for gate dielectric films.

NORM herausgegeben am 1.2.2008

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Informationen über die Norm:

Bezeichnung normen: DIN EN 62374:2008-02
Ausgabedatum normen: 1.2.2008
Zahl der Seiten: 24
Gewicht ca.: 72 g (0.16 Pfund)
Land: Deutsche technische Norm
Kategorie: Technische Normen DIN

Die Annotation des Normtextes DIN EN 62374:2008-02 :

Halbleiterbauelemente - Prüfung des zeitabhängigen dielektrischen Durchbruchs (TDDB) für dielektrische Gate-Schichten.