Semiconductor devices - Constant current electromigration test.
NORM herausgegeben am 1.12.2010
Bezeichnung normen: DIN EN 62415:2010-12
Ausgabedatum normen: 1.12.2010
Zahl der Seiten: 12
Gewicht ca.: 36 g (0.08 Pfund)
Land: Deutsche technische Norm
Kategorie: Technische Normen DIN
Halbleiterbauelemente - Konstantstrom-Prüfverfahren zur Elektromigration.