DIN EN 62417:2010-12

Semiconductor devices - Mobile ion tests for metal-oxide semiconductor field effect transistors (MOSFETs).

NORM herausgegeben am 1.12.2010

Deutsch -
PDF - sofortiges Download (61.40 EUR)

Informationen über die Norm:

Bezeichnung normen: DIN EN 62417:2010-12
Ausgabedatum normen: 1.12.2010
Zahl der Seiten: 9
Gewicht ca.: 27 g (0.06 Pfund)
Land: Deutsche technische Norm
Kategorie: Technische Normen DIN

Die Annotation des Normtextes DIN EN 62417:2010-12 :

Halbleiterbauelemente - Prüfverfahren auf mobile Ionen für Feldeffekttransistoren mit Metall-Oxid-Halbleiter (MOSFET).