DIN EN 60749-27:2013-04

Semiconductor devices - Mechanical and climatic test methods - Part 27: Electrostatic discharge (ESD) sensitivity testing - Machine model (MM).

NORM herausgegeben am 1.4.2013

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Informationen über die Norm:

Bezeichnung normen: DIN EN 60749-27:2013-04
Ausgabedatum normen: 1.4.2013
Zahl der Seiten: 15
Gewicht ca.: 45 g (0.10 Pfund)
Land: Deutsche technische Norm
Kategorie: Technische Normen DIN

Die Annotation des Normtextes DIN EN 60749-27:2013-04 :

Halbleiterbauelemente - Mechanische und klimatische Prüfverfahren - Teil 27: Prüfung der Empfindlichkeit gegen elektrostatische Entladungen (ESD) - Machine Model (MM).