DIN EN 60749-33:2004-09

Semiconductor devices - Mechanical and climatic test methods - Part 33: Accelerated moisture resistance - Unbiased autoclave.

NORM herausgegeben am 1.9.2004

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Informationen über die Norm:

Bezeichnung normen: DIN EN 60749-33:2004-09
Ausgabedatum normen: 1.9.2004
Zahl der Seiten: 10
Gewicht ca.: 30 g (0.07 Pfund)
Land: Deutsche technische Norm
Kategorie: Technische Normen DIN

Die Annotation des Normtextes DIN EN 60749-33:2004-09 :

Halbleiterbauelemente - Mechanische und klimatische Prüfverfahren - Teil 33: Beschleunigte Verfahren für Feuchtebeständigkeit - Autoclave ohne elektrische Beanspruchung.