DIN EN 60749-35:2007-03

Semiconductor devices - Mechanical and climatic test methods - Part 35: Acoustic microscopy for plastic encapsulated electronic components.

NORM herausgegeben am 1.3.2007

Deutsch -
PDF - sofortiges Download (92.60 EUR)

Deutsch -

Gedruckt (112.00 EUR)

Deutsch -

CD-ROM (94.10 EUR)

Informationen über die Norm:

Bezeichnung normen: DIN EN 60749-35:2007-03
Ausgabedatum normen: 1.3.2007
Zahl der Seiten: 21
Gewicht ca.: 63 g (0.14 Pfund)
Land: Deutsche technische Norm
Kategorie: Technische Normen DIN

Die Annotation des Normtextes DIN EN 60749-35:2007-03 :

Halbleiterbauelemente - Mechanische und klimatische Prüfverfahren - Teil 35: Ultraschallmikroskopie für kunststoffverkappte Bauelemente der Elektronik.